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毛細管聚焦X熒光鍍層測厚儀 高性?xún)r(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類(lèi)鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。半導體集成電路行業(yè)電鍍鉑厚度檢測儀

毛細管檢測電鍍鍍層厚度儀 高性?xún)r(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類(lèi)鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。半導體集成電路行業(yè)電鍍鉑厚度檢測儀

電鍍厚度測試儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì )反射其穩定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們設計出：膜厚測試儀也可稱(chēng)為膜厚測量?jì)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環(huán)保工藝準則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀。一六儀器膜厚儀電鍍廠(chǎng)鍍層厚度分析儀

電鍍厚度測試儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì )反射其穩定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們設計出：膜厚測試儀也可稱(chēng)為膜厚測量?jì)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環(huán)保工藝準則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀。一六儀器膜厚儀 金屬電鍍鍍層厚度分析

電鍍厚度測試儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì )反射其穩定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們設計出：膜厚測試儀也可稱(chēng)為膜厚測量?jì)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環(huán)保工藝準則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀。一六儀器 X射線(xiàn)鍍層測厚儀XD1000

電鍍膜厚檢測儀器 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì )反射其穩定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們設計出：膜厚測試儀也可稱(chēng)為膜厚測量?jì)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環(huán)保工藝準則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀。