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天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀探險者EXPLORER手持式X熒光分析儀(手持式光譜儀)是天瑞儀器結合10年手持XRF技術(shù)研發(fā)經(jīng)驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術(shù)，研制出具有自主知識產(chǎn)權的全新一代手持XRF產(chǎn)品。EXPLORER 3000F手持式XRF 有害元素分析儀是天瑞儀器針對RoHS行業(yè)特別研發(fā)設計的手持檢測分析儀。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX 3200S-PLUS (食品重金屬快速檢測儀)屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發(fā)的產(chǎn)品，設備采用了能量色散X射線(xiàn)熒光光譜（EDXRF)技術(shù)實(shí)現食品中微量重金屬有害元素的快速檢測，設備采用了*探測器和激發(fā)源等硬件配置。

本產(chǎn)品符合國標GB/T 18043-2013對儀器分辨率的要求，天瑞能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX 3000采用Si-Pin半導體探測器，遠勝于正比計數探測器； 準確無(wú)誤地分析黃金， 鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX3600繼承了天瑞儀器EDX系列的準確、快速、無(wú)損、直觀(guān)及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果符合國標GB-1887《首飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測方法X射線(xiàn)熒光光譜法》的要求。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門(mén)提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX3600H融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的儀器類(lèi)型。具有測試精度高、測試速度快、測試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。