天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX3600性能特點(diǎn)：

三重安全保護模式。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線(xiàn)性回歸程序。

任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。

高信噪比的電子線(xiàn)路單元。

全元素測試專(zhuān)用X熒光分析軟件。

與傳統儀器相比，新增加的抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的版圖。

采用SDD硅漂移探測器，分辨率低至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

提供多種準直器，直徑小達0.2mm，輕松實(shí)現精小部位的精確測試。

精選全球組件。

真空腔。

在分析低含量的輕元素時(shí)，使用真空泵設備把空氣抽出，使內部在真空狀態(tài)下對輕元素進(jìn)行分析。

真空泵（選配）。

極限真空：6×10-2 帕轉速：1400 轉/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX3600技術(shù)指標：

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

同時(shí)分析元素：30種元素同時(shí)分析

元素含量分析范圍：1ppm-99.99%

能量分辨率為：140±5ev

測量時(shí)間：60s-200s（可調）

制冷方式：電制冷，無(wú)需任何耗材

環(huán)境溫度：10℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

輸入電壓：AC 110V/220V

管壓：5kV-50kV

管流：50μA-1000μA

樣品腔尺寸：334×500×80mm

外觀(guān)尺寸：670×533×855 mm

重量：80kg

標準配置：

美國AmptekSDD探測器；

數字多道分析器；

放大電路、高低壓電源、X光管；

計算機、打印機、真空泵（選配）、穩壓電源（選配）；

軟件：貴金屬分析軟件（標配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配）。

應用領(lǐng)域：

黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測?？蓮V泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。

分析元素：金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等。