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天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀Thick600是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。Thick600鍍層測厚儀使用實(shí)用的正比計數盒和電制冷探測器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿(mǎn)足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX4500是利用XRF檢測原理實(shí)現對各種元素成份進(jìn)行快速、準確、無(wú)損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準確分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX2000H黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析。應用新一代的高壓電源和X光管，提供了產(chǎn)品的可靠性，利用新X光管提高儀器的測試效率，并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護等級。不添加任何硬件設施既可升級分析功能，方便靈活的隨未來(lái)發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類(lèi)；采用多參數的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低，檢測時(shí)間短，可以大大提高工作效率。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX3000PLUS在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無(wú)誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結果符合國標GB/T 18043-2000要求。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點(diǎn)在于高準確度、高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作，一切讓貴金屬檢測如此簡(jiǎn)單。

針對EDX 1800B在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應用，根據優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX1800E。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀Cube 100在測量金、銀、鉑等貴金屬以及首飾內壁含量上功能獨到。采用高分辨率SDD或者Sipin探測器，可準確無(wú)誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等元素的含量，同時(shí)還可以測試鎘和鉛等有害物質(zhì)。測試結果符合國標GB/T 18043-2013要求。