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真空金屬鍍層厚度測試儀XAU光譜分析儀是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設計，是一款一機多用型光譜儀。應用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專(zhuān)用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿(mǎn)足微區RoHS檢測及成分分析。被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

測試膜：又名X射線(xiàn)熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測膜，光譜儀樣品薄膜；是應用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內的物質(zhì)。專(zhuān)用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷，無(wú)污染的測試用樣品薄膜，廣泛應用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。

XRAY金屬厚度測試儀Thick800A是專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺。是一款功能強大的儀器，配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手