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型號:XTD-200

X熒光電鍍厚度測試儀

描述:X熒光電鍍厚度測試儀
1.*EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可測量。
2.上照式設計:實(shí)現可對超大工件進(jìn)行快、準、穩高效率測量。
3.自動(dòng)對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。
4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。
5.小面積測量:小測量面積0.002mm2

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間

    2024-04-28
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    1293
詳細介紹
品牌其他品牌價(jià)格區間10萬(wàn)-20萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝

X熒光電鍍厚度測試儀

是專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測試,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺。是一款功能強大的儀器,配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

應用領(lǐng)域:

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測機構;電鍍行業(yè)。


技術(shù)指標:
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)。
一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素。
分析檢出限可達1ppm。
分析含量一般為1ppm到99.9%。
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序。
多次測量重復性可達0.1%。
長(cháng)期工作穩定性為0.1%。
溫度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源



產(chǎn)品詳情

XTD-200測厚儀,專(zhuān)業(yè)表面處理檢測解決方案:釹鐵硼磁鐵Ni/Cu/Ni/FeAlB電鍍層分析

兩層重復鎳鍍層厚度分析儀

XTD-200測厚儀,于檢測各種異形件,特別是五金類(lèi)模具、衛浴產(chǎn)品、線(xiàn)路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

儀器優(yōu)點(diǎn):

1. 分析精度*

2. 分析范圍廣泛

3. 微區定位

4. 操作簡(jiǎn)單快捷

5. 結果可靠

6. 行業(yè)標準


XYZ高精密移動(dòng)裝置:快速定位,手/自動(dòng)(可選),自動(dòng)版可實(shí)現編程定位多點(diǎn)自動(dòng)測試。


軟、硬件雙向操作:人性化設計,實(shí)現軟件,硬件雙向快捷操作。

變焦 對焦:配備高敏感鏡頭,實(shí)現無(wú)感對焦,可測各種異形件、超大工件。



性能優(yōu)勢:

1.*EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可測量。

2.上照式設計:實(shí)現可對超大工件進(jìn)行快、準、穩高效率測量。

3.自動(dòng)對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。

4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。

5.小面積測量:小測量面積0.002mm2

6.大行程移動(dòng)平臺:手動(dòng)X(jué)Y滑臺100*150mm,自動(dòng)X(jué)Y平臺200*200mm.


X熒光電鍍厚度測試儀結構設計:

一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置,讓X射線(xiàn)和可見(jiàn)光攝像同一垂直線(xiàn),達到視覺(jué)與測試定位一體,且X光擴散度極??;與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能,實(shí)現高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來(lái)的誤差,同時(shí)特征X射線(xiàn)可以穿透測試更厚的表層。


EFP算法:


采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法,基于熒光X射線(xiàn)激發(fā)的基本原理,從理論上計算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線(xiàn)的熒光強度,在基于此計算Lachance綜合校正系數,然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。

只需少數標樣來(lái)校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。




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