FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀是一臺款現代化桌上X射線光譜儀（EDXRF）。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
XAN? 120測量準確，使用安全簡便，堅固耐用節(jié)省維護費用。而且，它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定。
無論您想測量未知樣品還是測定未知材料，XAN? 120 配合優(yōu)異的菲希爾 WinFTM? 運行軟件都是您正確的選擇。
FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀采用新改進的基本參數法，無論是無標準片測量還是有標準片測量，都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置，X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN? 120 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術。集成了含十字線、射線位置指示標志、光亮及位置調節(jié)的視頻顯微系統(tǒng)，將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現在您不再需要調節(jié)測量臺或是樣品臺——只需放下樣品即可開始測量。
可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層 

XDAL,XDVM菲希爾（FISCHER）膜厚儀,XRF鍍層厚度分析儀配創(chuàng)新的X射線光學系統(tǒng),專門測量極小的面積.電動測量臺,高能量解像半導體接收器,四個電動準直器.自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等 符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾XUL（M）膜厚儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.