儀器簡(jiǎn)介：

XTD(B)鍍層測厚儀是一款專(zhuān)用于檢測各種異形件，特別適用于五金類(lèi)模具、衛浴產(chǎn)品、線(xiàn)路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以?xún)鹊漠愋渭邆渚薮蟮膬?yōu)勢。

被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

XTD(B)鍍層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢：

• *EFP算法：在多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可精準測量

• 上照式設計：實(shí)現可對超大工件進(jìn)行快、準、穩高效率測量

• 自動(dòng)對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦

• 變焦裝置算法：可對0-90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測

• 小面積測量：最小測量面積0.002mm2

• 可編程自動(dòng)位移：選配自動(dòng)平臺，X210*Y230*Z145mm行程內無(wú)人值守自動(dòng)測量

應用領(lǐng)域：

廣泛應用于半導體行業(yè)、新能源行業(yè)、5G通訊、五金建材、航空航天、環(huán)保行業(yè)、汽車(chē)行業(yè)、衛浴裝飾、精密電子、電鍍行業(yè)等多種領(lǐng)域。

多元迭代EFP核心算法（ZL號：2017SR567637）

專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團隊在A(yíng)lpha和Fp法的基礎上，計算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法，結合*光路轉換技術(shù)、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統，只需要少量的標樣來(lái)校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應用：如NiP/Fe，通過(guò)EFP算法，在計算鎳磷鍍層厚度的同時(shí)，還可精準分析出鎳磷含量比例。

重復鍍層應用：不同層有相同元素，也可精準測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，第一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。

技術(shù)參數：

1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）

2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）

3. 厚度檢出限：0.005μm

4. 成分檢出限：1ppm

5. 最小測量直徑0.5mm（最小測量面積0.2mm2）

6. 對焦距離：0-90mm

7. 樣品腔尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 儀器尺寸：760mm*550mm*635mm

9. 儀器重量：100KG

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機多用，無(wú)損檢測

2.最小測量面積0.002mm2

3.可檢測凹槽0-90mm的異形件

4.輕元素，重復鍍層，同種元素不同層亦可檢測