一、WDX400商品檢驗波長(cháng)色散熒光多元素分析儀性能特點(diǎn)：

1.粉體樣品或塊樣品快速，非破損分析。

2.可快速分析粉末壓片，玻璃熔片和塊狀物料。

3.采用多路數字MCA實(shí)時(shí)檢測，大大提高元素檢測效率譜峰，不僅便于儀器調試和故障診斷，并可進(jìn)一步提高儀器的分析精度和穩定性。

4.配置充氦裝置后可以分析液體樣品或易揮發(fā)性固體樣品。

5.與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點(diǎn)：

a、在較小功率和測定時(shí)間基本相當的情況下即可達到足夠的分析精度。

b、延長(cháng)X光管使用壽命。

c、減少高壓電源故障。

d、降低整機維修成本。

e、采用固定通道，無(wú)測角儀磨損問(wèn)題。

二、WDX400商品檢驗波長(cháng)色散熒光多元素分析儀技術(shù)指標：

高壓電源：400W（50kv/8mA）。

X射線(xiàn)管：Varian公司生產(chǎn)的400W薄鈹窗端窗X射線(xiàn)管，Rh靶（Pd靶可選）。

管壓管流12小時(shí)穩定度：優(yōu)于0.05%。

分析元素種類(lèi)：從Na到U的任意十種元素。

探測器：流氣正比探測器+封閉正比探測器，10路1024道獨立脈沖高度分析器。

真空系統：獨立泵站結構，易于維護。

測量室真空度：低于5Pa。

流氣系統：高精度流氣密度穩定裝置，壓力穩定度達到±0.003KPa。

前主放：高速前主放電路，大大提高儀器的探測效率，提高儀器的測量精度。

MCA多道：采用數字MCA多道幅度采集器，大大提高檢測效率。

交流220V供電設備：1KVA交流凈化穩壓電流。

分析精度：σn-1（24小時(shí)，百分比含量）≤0.05%。

單個(gè)樣品測量時(shí)間：（含換樣抽真空時(shí)間）≤3～5分鐘。

恒溫室溫度控制精度：設定值±0.1℃。

三、應用領(lǐng)域：

建材（水泥、玻璃、陶瓷等）鋼鐵 有色金屬 礦業(yè) 地質(zhì) 化工 石油 質(zhì)量檢驗 商品檢驗

檢測原理：

物質(zhì)樣品中有多種元素存在的情況下，當樣品受到X光管發(fā)出的初級X射線(xiàn)照射時(shí)，各種被測元素發(fā)出各自的特征X射線(xiàn)，統稱(chēng)X熒光。將這些元素的特征X射線(xiàn)分開(kāi)和檢測稱(chēng)為X熒光的分光。

由于不同元素特征X射線(xiàn)的波長(cháng)不同，根據布拉格公式采用晶體衍射技術(shù)即可將不同波長(cháng)的X射線(xiàn)分光。此種分光方法稱(chēng)作波長(cháng)色散法。

布拉格公式：

2dSinθ=nλ……………………（1）

上式中d為分光晶體的晶面間距，θ為衍射角，λ為波長(cháng)，n為衍射級數。一般情況下均檢測一級衍射線(xiàn)，即n=1。據此公式，分光晶體選定后（即2d已確定）對某一波長(cháng)λ的某一元素的特征X射線(xiàn)，只有在符合上式的θ角可以檢測到，而其他元素的特征X射線(xiàn)由于其波長(cháng)λ不符合上述公式，因此該θ角度方向檢測不到。分光晶體可以是平面晶體，此時(shí)采用平行板準直器將樣品的X熒光變成平行光投射到晶體上，稱(chēng)作平行分光法；也可采用具有聚焦作用的曲面晶體（彎晶）進(jìn)行分光，稱(chēng)作聚焦分光法（尤其適合原子序數較小的輕元素）。圖1-2兩種分光系統的原理圖。

特征X射線(xiàn)的波長(cháng)是與元素種類(lèi)一一對應的，依靠波長(cháng)色散將物質(zhì)樣品X熒光中不同波長(cháng)的特征X射線(xiàn)分開(kāi)并檢測，就可以確定物質(zhì)中含有哪些元素，實(shí)現物質(zhì)中所含元素種類(lèi)的定性分析。

另一方面，各元素特征X射線(xiàn)的強度（單位時(shí)間內特征X射線(xiàn)的光子數）則與該樣品中各元素的百分含量成正比，即樣品中某元素含量愈高，則其發(fā)出的特征X射線(xiàn)的光子數/秒愈多，即滿(mǎn)足下述公式：

C_i=A_iI_i+B_i……………………（2）

其中C_i為第i種元素（或其化合物）的含量百分比，I_i為檢測到的該元素的特征X射線(xiàn)強度，常數A_i和B_i則通過(guò)標樣檢測制作工作曲線(xiàn)確定，A_i為工作曲線(xiàn)的斜率，B_i為工作曲線(xiàn)截距。用標樣制作工作曲線(xiàn)的過(guò)程稱(chēng)作儀器的標定。標定過(guò)程中，對一組含量已知的標樣進(jìn)行檢測，對某一元素i而言,標樣中該元素的含量C_i已知，特征X射線(xiàn)強度I_i通過(guò)分光檢測得到，測定若干個(gè)標樣后通過(guò)線(xiàn)性擬合，即可計算出（2）式中每種元素的工作曲線(xiàn)的斜率A_i和截距B_i。完成標定后，即可通過(guò)檢測未知樣品中各被測元素特征X射線(xiàn)的強度，根據（2）式計算出該未知樣品中各被測元素的含量，實(shí)現未知樣品的定量分析。

實(shí)際上，某一元素的特征X射線(xiàn)強度還受到其它元素原子的吸收和增強作用的影響，這種原子間的吸收和增強作用稱(chēng)作基體效應。由于基體效應的存在，某一元素的特征X射線(xiàn)強度并非只與該元素的含量有關(guān)，也在一定程度上受到其它元素含量的影響，也就是說(shuō)（2）式中的A_i、B_i并非常數，公式（2）應修改成公式（3）

C_i=A_ijI+B_ij………………（3）

其中A_ij=A_i（k′_ijC_j+1）+B_i(k〞_ijC_j+1)………………（4）

公式（4）為一組多元一次聯(lián)立方程式，其中k′_ij和k〞_ij表示元素j對被測元素i的基體校應影響因子。為了求解（3）式和（4）式，經(jīng)過(guò)國際X熒光分析界幾代人的努力，大致有以下幾種典型方法：

1. 經(jīng)驗系數法：通過(guò)測定一定數量的一組標樣（該組標樣的元素含量應打破相關(guān)性），采用非線(xiàn)性最小乘法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò )數學(xué)模型等各種多次疊代的數學(xué)方法求解，作出工作曲線(xiàn)。

采用經(jīng)驗系數法的定量分析結果準確可靠，使用較為廣泛。但是為了提高儀器標定的準確性，一般需要較多的標樣，而且被分析的元素（或化合物）種類(lèi)愈多，需要的標樣數量就愈多。

2. 基本參數法：根據儀器的有關(guān)參數和元素原子間基體效應的基本數據等依靠理論計算和對純元素（或純化合物）試劑的測定求?。?）式中的影響因子，實(shí)現定量分析。由于儀器結構變化等種種原因，此種方法的定量精度尚不夠高，一般用于無(wú)標樣時(shí)作半定量分析。

3. 理論α系數法：此法介于上述兩種之間，現已日趨成熟并已實(shí)用化，在X熒光光譜儀和采用半導體探測器的較高檔的X熒光能譜儀中，均已做成定量分析軟件普遍采用。采用此種定量分析方法顯著(zhù)的優(yōu)點(diǎn)是可以大大減少儀器標定用的標樣數目，一般用3—5個(gè)標樣即可實(shí)現正確的多元素定量分析。從而大大的減少了標樣制作和分析的工作量及費用，特別是在環(huán)保、生物試體分析等制作標樣十分困難的應用領(lǐng)域，不可能采用需要眾多標樣的經(jīng)驗系數法，理論α系數法具有廣闊的應用前景。