國產X射線熒光ROHS分析儀工作原理
X射線熒光光譜分析儀技術基本理論
X-熒光 物質是由原子組成的，每個原子都有一個原子核，原子核周圍有若干電子繞其飛行。不同元素由于原子核所含質子不同，圍繞其飛行的電子層數、每層電子的數目、飛行軌道的形狀、軌道半徑都不一樣，形成了原子核外不同的電子能級。在受到外力作用時，例如用X-光子源照射，打掉其內層軌道上飛行的電子，這時該電子騰出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要從其較外電子層上吸引一個電子來補充，這時原子處于激發(fā)態(tài)，其相鄰電子層上電子補充到內層空穴后，本身產生的空穴由其外層上電子再補充，直至*外層上的電子從空間捕獲一個自由電子，原子又回到穩(wěn)定態(tài)（基態(tài)）。這種電子從外層向內層遷移的現(xiàn)象被稱為電子躍遷。由于外層電子所攜帶的能量要高于內層電子，它在產生躍遷補充到內層空穴后，多余的能量就被釋放出來，這些能量是以電磁波的形式被釋放的。而這一高頻電磁波的頻率正好在X波段上，因此它是一種X射線,稱X-熒光。 因為每種元素原子的電子能級是特征的，它受到激發(fā)時產生的X-熒光也是特征的。 注意，這里的X-熒光要同寶石學中所描述的寶石樣品在X射線照射下所發(fā)出可見光的熒光概念相區(qū)別。
國產X射線熒光ROHS分析儀參數規(guī)格
X射線熒光光譜分析儀元素分析范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm—99.99%(不同材質，分析范圍不同)
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
檢測限：RoHS指令規(guī)定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢出限達ppm級
測量鍍層：鍍層厚度測量*薄至0.005微米
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時間：60秒—200秒
工作溫度:15℃—30℃
工作濕度：≤70%
工作電壓：AC 110V/220V
高效超薄端窗X光管
電制冷UHRD探測器
內置高清晰攝像頭
光路增強系統(tǒng)
可自動切換型準直器和濾光片
加強的金屬元素感度分析器
外觀尺寸： 510×589×350 mm
樣品杯尺寸（10個）：40.7×26mm
重量：55Kg
產品特點
X射線熒光光譜分析儀專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
超薄窗大面積的*SDD探測器。
抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
應用領域
水泥檢測
鋼鐵和有色金屬檢測
礦料分析
RoHS檢測